英国精密计量公司LK Metrology近日推出用于坐标测量机（CMM）的新一代L100NX蓝光激光扫描仪，该系统采用450纳米蓝光激光技术，旨在降低噪音、提升数据质量，并增强航空航天、汽车和工业制造领域的扫描性能。

作为L100红光激光扫描仪的升级版本，L100NX实现了多项技术突破，扫描噪音降低26%，为高精度应用提供更清晰可靠的数据集。

该系统具备110毫米的条纹宽度和每秒高达530,000点的扫描速度，显著提升了对大型组件的检测效率。



为应对多材料组件的检测需求，L100NX采用了第四代ESP（增强传感器性能）技术，可自动调整激光线上2000个点的激光功率。

用户无需预处理即可直接测量反射表面、复合材料或混合材料组装件，从而大幅减少手动干预和操作员工作量。

可用性方面，该扫描仪集成旋转适配器以优化传感器定位，并配备视场（FOV）投影仪，可将覆盖区域直接投射到部件表面，简化复杂几何形状的编程、设置和扫描流程。

LK Metrology激光扫描仪产品经理Kristof Peeters表示，L100NX代表了“激光扫描技术的重大飞跃”，蓝光光学与智能传感器的结合满足了现代制造业不断演进的需求。



蓝光激光传感器因较低的散斑噪声及在暗色、反光或纹理表面上更优的性能，正日益成为工业计量领域的新趋势。

对于CMM用户而言，该技术可减少检测准备时间，提高大批量检测任务的可重复性。

LK Metrology自1963年创立以来，在坐标计量领域拥有悠久历史，以多项技术里程碑著称，包括首款桥式设计、首次将计算机集成到检测系统的OEM方案等。

该公司现为独立CMM制造商，开发和生产基地位于英国Castle Donington，并在欧洲、北美和亚洲设有办事处。

当前光学计量技术正快速发展，业界对测量速度、便携性和精度要求不断提高，L100NX的推出反映了传感器与软件系统在减少设置时间、扩大表面适应性以及提升测量一致性方面的持续进步。